薄膜厚度測試儀塑料薄膜/薄片自動測厚儀型號DPCHY-CA
適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量

產品型號：DPCHY-CA

更新時間：2026-01-13

廠商性質：生產廠家

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專用儀器儀表

爆速儀指示器羅盤儀消化爐電泳槽光澤度儀電極計算器混勻儀強度計壓力表透光儀開關電鹽浴定硫儀測振儀振蕩儀光通量計干燥機摩擦儀柱塞泵功率計測速儀檢驗儀粘度計應變計監(jiān)視儀成型器恒溫器加熱板熱量計測量表容重器評選儀擴音器電泳儀凈化空氣溫濕度色差儀變壓器讀數(shù)儀鋼瓶報警器乳化機煙度計制樣機探測器曲率儀轉速表應力儀光率儀直角規(guī) 藍烘箱雞蛋切割機點火器純水器計時器篩分機振動計老化箱離心機膨脹儀提取器煙溫計原油脫水儀控制器過濾器平磨儀裝置粗糙度儀封口機坡口機點膠機水分儀驗粉篩測汞儀滅菌器鹽度計回彈儀定位儀拉力機磁導率儀焊機水平儀勻膠機系統(tǒng)一體機頻率計探傷儀傾角儀測距儀監(jiān)測儀校準儀變送器葉面積聲級計滴定儀量熱儀純水機極譜儀高斯計濾失儀水浴槽空壓機恒速器壓力計粉質儀拉伸儀蟲情測報燈記錄儀傳感器硬度計定氮儀指數(shù)儀發(fā)生裝置比色儀加熱器試劑超聲波破碎儀薄層色譜攪拌儀偏差儀計數(shù)器液位計密度計搖床彎角規(guī) 吹泡儀萃取儀培養(yǎng)箱均質器白度儀真空計張力儀經緯儀檢測儀制冰機在線鈉離子檢測儀超聲波清洗機流速儀分析儀四探針測試儀測定儀

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010-51298264

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品牌	YODP/亞歐德鵬	產地類別	國產
應用領域	環(huán)保,食品/農產品,化工,農林牧漁,綜合

薄膜厚度測試儀 塑料薄膜/薄片自動測厚儀型號DPCHY-CA
適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動升降
自動進樣
手動、自動雙重測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計偏差
可設進樣步距、測量點數(shù)、進樣速度等參數(shù)
標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
顯示大值、小值、平均值和統(tǒng)計偏差
標準量塊標定
RS232接口
網(wǎng)絡傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
薄膜厚度測試儀器技術指標
測量范圍：0～2mm；0～6mm，12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
　　　　　注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
進樣步距：0～1000mm
進樣速度：0.1～99.9mm/s
電　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
凈　　重：32kg

可見分光光度計/分光光度計   型號:DP-WFJ7200/7200
儀器型號    DP-WFJ7200/7200
光學系統(tǒng)   單光束，1200條/毫米衍射光柵
波長范圍   325-1000nm
波長精度   ±2nm
波長重復性   1nm
光度范圍   0-125%T, -0.097-1.999A, 0-1999C(0-1999F)
光度精度   ±0.8%T
雜散光     ≤0.5%T在360nm處
帶寬       5nm
穩(wěn)定性    ±0.004A/h在500nm處
顯示       LED數(shù)碼管
數(shù)據(jù)輸出   串行口
打印機接口   并行口
外形尺寸   470×400×140（mm）
重量       9.5kg

表面式溫度傳感器溫度傳感器 DP-GWP200-M

指標名稱	性能指標
被測介質	固體表面
量程	0～200℃
感溫原件	PT100
供電電源	無源式
輸出信號	電阻信號
精度	A組、B組
環(huán)境溫度	－20～65℃
相對濕度	0～90% RH

固定方式	M6螺紋固定/磁鐵式
產品材料	1Cr18Nⅰ9tⅰ
引線方式	Φ3.6mm電纜引出

靜態(tài)磁滯回線測量儀回線測量儀型號：DP-TF-CIA
采用靜態(tài)法測量鐵磁材料的特性參數(shù)。適合教學。
特點：樣品外置，方便更換比較。具有電腦接口；功能齊備的多媒體教學演示和數(shù)據(jù)處理軟件，方便教師開設實驗。
1.磁化電流: 0 - ±3A
2.線圈匝數(shù) > 40
3.樣品外置，方便更換。
4.設有過熱保護裝置。
5.可以描繪磁滯回線、初始磁化曲線、基本磁化曲線等
6.內含微處理器，程控放大器,
7.通過串口與計算機連接，實時記錄數(shù)據(jù)和曲線；
8.軟件功能豐富,含原理演示、圖形記錄、數(shù)據(jù)處理等。
9.程控放大倍數(shù)：1 – 1000
10.磁化電流：0 – 3A；
11.測量精度：12位

變溫霍爾效應實驗儀型號：DP-HT-648
霍爾效應的測量是開展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數(shù)和電導率的聯(lián)合測量，進行半導體導電機制及散射機制的研究，并可確定半導體的一些基本參數(shù)，如導電類型、載流子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質電離能等。
主要技術指標
1．電磁鐵      0-300mT連續(xù)可調
2. 勵磁電源     0-5A連續(xù)可調可自動換向穩(wěn)定性﹤±0.1%
3. 數(shù)字特斯拉計  0-2000mT  三位半數(shù)字顯示分辨率0.001
4. 恒流源輸出   1mA       穩(wěn)定性±0.1%
5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量小分辨率1uV
6. 溫度變化測量范圍    80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機箱、測量系統(tǒng)主機、恒溫器四部分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片